可靠性測試> 氣候環(huán)境可靠性測試 > 高溫變率測試
快速溫變試驗(yàn)箱是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個循環(huán)，溫度循環(huán)試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度是以高/低溫度范圍、停留時間以及循環(huán)數(shù)來決定的。
樣品經(jīng)溫度變化或溫度連續(xù)變化環(huán)境后之功能特性變化，或在此環(huán)境中之操作功能性。
快速溫變試驗(yàn)箱實(shí)物圖
快速溫變試驗(yàn)箱
型號 QZ-K225UT-F25
溫度范圍：(-70~180)℃
溫度變率：25℃/min
設(shè)備內(nèi)尺寸:(1000×1000×1000)mm(W*D*H)
溫度范圍：(-70~180)℃
溫度變率：25℃/min
設(shè)備內(nèi)尺寸:(1100×800×920）mm(W*D*H)
參考標(biāo)準(zhǔn)：
IEC 60068-2-14:2009
Environmental testing-part2-14:tests-test Nb: change of temperature
GB2423.22-2002
電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Nb:溫度變化 |
